纳米红外成像系统Vista-IR

Vista-IR纳米红外介绍：

傅立叶变化红外光谱（Fourier Transform infrared spectroscopy, FTIR）广泛应用于各种化学分析，尤其是聚合物和有机化合物分析，为现代化学提供了重要的分析手段。然而常规的傅立叶红外光谱由于受到光学衍射极限的限制，其空间分辨率也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行化学分析及成分鉴定。在这一背景下，Molecular Vista应运而生，推出了全新一代纳米红外成像与光谱采集系统Vista-IR！

Vista-IR纳米红外联合波长可调的红外光源，利用独有的光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM）技术，可以在扫描形貌的同时实现10nm空间分辨的红外成像与光谱采集，无需远场光学探测器及干涉仪。

10 nm空间分辨的红外光谱成像与光谱采集或红外高光谱成像

嵌段共聚物相分离研究（PS-b-PMMA）：半截距为~10 nm的嵌段共聚物红外成像，截面结果显示光诱导力显微镜实现了~5 nm的横向空间分辨！

多层聚合物界面研究（Epoxy-pDEGDA-SDIB）：以10 nm间隔以及0.2秒/谱的采集速度沿聚合物界面采集了30条红外光谱，从1~30位置处光谱中强度梯度变换可以确定聚合物界面的位置以及宽度。

二维有机半导体晶体生长研究（C6-DPA）：厚度为~2 nm的有机半导体晶体红外成像，截面结果显示光诱导力显微镜实现了单层的纵向分辨率！

光诱导力显微镜采集的红外光谱与标准FTIR光谱高度吻合：科研人员可以将PiFM红外光谱与FTIR红外光谱图库中的数据进行对比分析。

ZSM-5沸石分子筛：光诱导力显微镜不仅适合有机物的表征也适合无机物的表征。以下为不同Si/Al的ZSM-5晶体的红外骨架振动峰在1100 cm^-1处的红移及劈裂情况，以及在1480 cm^-1处的C=C伸缩振动峰的红外成像来反映其参与甲醇制碳氢化合物（MTH）催化反应后的结焦分布。

晶圆缺陷与污染物：光诱导力显微镜可以对纳米级缺陷的尺寸和化学成分进行测量与分类。示例形貌图显示缺陷的大小约为100 nm，厚度约为3 nm。缺陷上的PiF-IR光谱与Teflon的FTIR光谱很好地匹配，使银河官网入口能够将该缺陷识别为Teflon。

Vista One Platform:

Visible ~ IR chemical imaging and spectroscopy, E-field imaging, photovoltage/current imaging with sub-10 nm spatial resolution.

Also being combined with Confocal Raman, PL imaging and other kinds of far field spectroscopy and optical microscopy.